COMPTON-PROFILE STUDIES OF AMORPHOUS AND SINGLE-CRYSTAL SIO2

被引：11

作者：

ROSENBERG, M ^{[1
]}

MARTINO, F ^{[1
]}

REED, WA ^{[1
]}

EISENBERGER, P ^{[1
]}

机构：

[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974

来源：

PHYSICAL REVIEW B | 1978年 / 18卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevB.18.844

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：844 / 850

页数：7

共 16 条

[11] GAMMA-RAY COMPTON PROFILES OF DIAMOND, SILICON, AND GERMANIUM [J].

REED, WA ;

EISENBERGER, P .

[12] ANISOTROPIC COMPTON-SCATTERING IN LIF [J].

REED, WA ;

EISENBERGER, P ;

MARTINO, F ;

BERGGREN, KF .

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