RF BURNOUT DEPENDENCE ON VARIATION IN BARRIER CAPACITANCE OF MIXER DIODES

被引：5

作者：

ANAND, Y ^{[1
]}

机构：

[1] MICROWAVE ASSOC INC,BURLINGTON,MA 01803

来源：

PROCEEDINGS OF THE IEEE | 1973年 / 61卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1109/PROC.1973.9017

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：247 / 248

页数：2

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共 4 条

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