MONTE-CARLO CALCULATIONS OF STRUCTURE-INDUCED ELECTROMIGRATION FAILURE

被引：34

作者：

SCHOEN, JM ^{[1
]}

机构：

[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974

来源：

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1980年 / 51卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1063/1.327352

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：513 / 521

页数：9

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共 11 条

[11]

VERHOEVEN JD, 1963, MET REV, V8, P311