TEMPERATURE DEPENDENCE OF AVALANCHE BREAKDOWN IN GALLIUM ARSENIDE P-N JUNCTIONS

被引：15

作者：

HALL, R

LECK, JH

机构：

来源：

INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS | 1968年 / 25卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1080/00207216808938120

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：539 / &

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