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PULSE MEASUREMENTS OF TRANSIENT THERMAL RESPONSE AND TEMPERATURE OF AVALANCHING P-N JUNCTION
被引:1
作者
:
NIGRIN, J
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
NIGRIN, J
机构
:
来源
:
ELECTRONICS LETTERS
|
1971年
/ 7卷
/ 17期
关键词
:
D O I
:
10.1049/el:19710326
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:481 / &
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APPLIED PHYSICS LETTERS,
1966,
9
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&
[2]
MODEL FOR ELECTRICAL BEHAVIOR OF MICROPLASMA
HAITZ, RH
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[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1964,
35
(05)
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-
&
[3]
HAITZ RH, 1969, IEEE T ELECTRON DEVI, VED16, P438
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