MEASUREMENT OF SECONDARY ELECTRON EMISSION FROM DIELECTRIC SURFACES

被引：12

作者：

HEYDT, HL

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1950年 / 21卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1745674

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

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页码：639 / 643

页数：5

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共 4 条

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Bruining, H
De Boer, JH
[J]. PHYSICA, 1939, 6 : 823 - 833
[2] MULTIPLIER PHOTO-TUBE CHARACTERISTICS - APPLICATION TO LOW LIGHT LEVELS
ENGSTROM, RW
[J]. JOURNAL OF THE OPTICAL SOCIETY OF AMERICA, 1947, 37 (06) : 420 - 431
[3] HEIMANN W, 1940, ELEKTR NACHR TECHN, V17, P1
[4] Salow H., 1940, Z TECH PHYS, V21, P8