ELECTRON-MICROSCOPY STUDIES OF VOID SWELLING AND ANNEALING OF VOIDS IN ALUMINUM IRRADIATED WITH ALUMINUM IONS

被引：4

作者：

ENGMAN, U

HOLMQVIST, B

机构：

来源：

RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS | 1980年 / 47卷 / 1-4期

关键词：

D O I：

10.1080/00337578008209209

中图分类号：

TL [原子能技术]; O571 [原子核物理学];

学科分类号：

0827 ; 082701 ;

摘要：

引用

页码：189 / 193

页数：5

共 7 条

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