CHARGE PLASMA EROSION FOR SHORT-RANGE PARTIALLY AND TOTALLY STRIPPED IONS STOPPED IN SILICON RADIATION DETECTORS

被引：14

作者：

FINCH, EC ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV DUBLIN,TRINITY COLL,PHYS LAB,DUBLIN 2,IRELAND

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1974年 / 121卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(74)90195-5

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：431 / 437

页数：7

共 7 条

FINCH, EC .

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