DETERMINATION OF THIN OXIDE FILM THICKNESS BY INTEGRATED INTENSITY MEASUREMENTS

被引：11

作者：

BORIE, B

SPARKS, CJ

机构：

来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA | 1961年 / 14卷 / 06期

关键词：

D O I：

10.1107/S0365110X61001832

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

收藏

页码：569 / &

相关论文

共 3 条

[1] A DIFFRACTION MEASUREMENT OF THE STRUCTURE OF CU2O FILMS GROWN ON COPPER
BORIE, B
[J]. ACTA CRYSTALLOGRAPHICA, 1960, 13 (07): : 542 - 545
[2] MASS ABSORPTION COEFFICIENT OF CARBON FOR CUK-ALPHA RADIATION
CHIPMAN, DR
[J]. JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1955, 26 (11) : 1387 - 1387
[3] THE STRUCTURE OF OXIDE FILMS ON DIFFERENT FACES OF A SINGLE CRYSTAL OF COPPER
LAWLESS, KR
GWATHMEY, AT
[J]. ACTA METALLURGICA, 1956, 4 (02): : 153 - 163