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ANGULAR-DEPENDENT X-RAY PHOTOEMISSION-STUDY ON THE SURFACES OF GAAS (111) AND (111) SINGLE-CRYSTALS
被引:3
作者
:
BERG, U
论文数:
0
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0
h-index:
0
机构:
Sektion Physik, Martin-Luther-Universität
BERG, U
FUHRMANN, R
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机构:
Sektion Physik, Martin-Luther-Universität
FUHRMANN, R
BRUMMER, O
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0
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0
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0
机构:
Sektion Physik, Martin-Luther-Universität
BRUMMER, O
机构
:
[1]
Sektion Physik, Martin-Luther-Universität
[2]
Akademie der Wissenschaften der DDR, Zentralinstitut für Physikalische Chemie, Berlin
来源
:
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH
|
1979年
/ 53卷
/ 01期
关键词
:
D O I
:
10.1002/pssa.2210530152
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
[No abstract available]
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页码:K1 / K4
页数:4
相关论文
共 3 条
[1]
INSTRUMENTATION FOR SURFACE STUDIES - XPS ANGULAR-DISTRIBUTIONS
FADLEY, CS
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
UNIV HAWAII,DEPT CHEM,HONOLULU,HI 96822
UNIV HAWAII,DEPT CHEM,HONOLULU,HI 96822
FADLEY, CS
[J].
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA,
1974,
5
(NOV-D)
: 725
-
754
[2]
LOSCHKE K, 1975, KRIST TECH, V10, pK49
[3]
QUANTITATIVE CHEMICAL-ANALYSIS BY ESCA
PENN, DR
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
NBS,WASHINGTON,DC 20234
NBS,WASHINGTON,DC 20234
PENN, DR
[J].
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA,
1976,
9
(01)
: 29
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共 3 条
[1]
INSTRUMENTATION FOR SURFACE STUDIES - XPS ANGULAR-DISTRIBUTIONS
FADLEY, CS
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机构:
UNIV HAWAII,DEPT CHEM,HONOLULU,HI 96822
UNIV HAWAII,DEPT CHEM,HONOLULU,HI 96822
FADLEY, CS
[J].
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA,
1974,
5
(NOV-D)
: 725
-
754
[2]
LOSCHKE K, 1975, KRIST TECH, V10, pK49
[3]
QUANTITATIVE CHEMICAL-ANALYSIS BY ESCA
PENN, DR
论文数:
0
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0
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0
机构:
NBS,WASHINGTON,DC 20234
NBS,WASHINGTON,DC 20234
PENN, DR
[J].
JOURNAL OF ELECTRON SPECTROSCOPY AND RELATED PHENOMENA,
1976,
9
(01)
: 29
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