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TWO-DIMENSIONAL ANALYSIS OF THE SURFACE RECOMBINATION EFFECT ON CURRENT GAIN FOR GAALAS GAAS HBTS
被引:38
作者
:
HIRAOKA, YS
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0
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0
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0
机构:
Toshiba Corp, Kawasaki, Jpn, Toshiba Corp, Kawasaki, Jpn
HIRAOKA, YS
YOSHIDA, J
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0
机构:
Toshiba Corp, Kawasaki, Jpn, Toshiba Corp, Kawasaki, Jpn
YOSHIDA, J
机构
:
[1]
Toshiba Corp, Kawasaki, Jpn, Toshiba Corp, Kawasaki, Jpn
来源
:
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
|
1988年
/ 35卷
/ 07期
关键词
:
FERMI LEVEL PINNING - HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTORS (HBT) - SURFACE RECOMBINATION EFFECT - TWO-DIMENSIONAL NUMERICAL MODEL;
D O I
:
10.1109/16.3336
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:857 / 862
页数:6
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共 12 条
[11]
TANG JYF, 1984, J VAC SCI TECHNOL B, V2, P459, DOI 10.1116/1.582895
[12]
EMITTER BASE BANDGAP GRADING EFFECTS ON GAALAS/GAAS HETEROJUNCTION BIPOLAR-TRANSISTOR CHARACTERISTICS
[J].
YOSHIDA, J
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YOSHIDA, J
;
KURATA, M
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HOJO, A
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HOJO, A
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES,
1985,
32
(09)
:1714
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[11]
TANG JYF, 1984, J VAC SCI TECHNOL B, V2, P459, DOI 10.1116/1.582895
[12]
EMITTER BASE BANDGAP GRADING EFFECTS ON GAALAS/GAAS HETEROJUNCTION BIPOLAR-TRANSISTOR CHARACTERISTICS
[J].
YOSHIDA, J
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YOSHIDA, J
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MORIZUKA, K
;
HOJO, A
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HOJO, A
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IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES,
1985,
32
(09)
:1714
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