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NEW EMISSION X-RAY MICROSCOPE
被引:1
作者
:
YONEDA, Y
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
YONEDA, Y
机构
:
来源
:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
|
1962年
/ 33卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.1717909
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
引用
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页码:529 / &
相关论文
共 3 条
[1]
TECHNIQUE FOR CALCULATING X-RAY INTENSITIES IN THE ELECTRON PROBE MICROANALYZER
[J].
BIRKS, LS
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
BIRKS, LS
.
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1960,
31
(07)
:1297
-1298
[2]
CASTAING R, 1957, J METAL, V9, P189
[3]
MICRO-ANALYSIS BY A FLYING-SPOT X-RAY METHOD
[J].
COSSLETT, VE
论文数:
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引用数:
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COSSLETT, VE
;
DUNCUMB, P
论文数:
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0
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DUNCUMB, P
.
NATURE,
1956,
177
(4521)
:1172
-1173
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共 3 条
[1]
TECHNIQUE FOR CALCULATING X-RAY INTENSITIES IN THE ELECTRON PROBE MICROANALYZER
[J].
BIRKS, LS
论文数:
0
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0
h-index:
0
BIRKS, LS
.
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1960,
31
(07)
:1297
-1298
[2]
CASTAING R, 1957, J METAL, V9, P189
[3]
MICRO-ANALYSIS BY A FLYING-SPOT X-RAY METHOD
[J].
COSSLETT, VE
论文数:
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0
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COSSLETT, VE
;
DUNCUMB, P
论文数:
0
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DUNCUMB, P
.
NATURE,
1956,
177
(4521)
:1172
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