APPLICATIONS OF SCANNING LOW ENERGY ELECTRON PROBE (SLEEP) FOR MOS DEVICE EVALUATION

被引：2

作者：

FLEMMING, JP

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(71)90015-3

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1061 / &

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共 5 条

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