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STRUCTURAL CHARACTERIZATION OF NBCN THIN-FILMS
被引:13
作者
:
SKELTON, EF
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SKELTON, EF
WOLF, SA
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WOLF, SA
FRANCAVILLA, TL
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FRANCAVILLA, TL
机构
:
来源
:
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY
|
1981年
/ 18卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1116/1.570737
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
引用
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页数:3
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共 11 条
[11]
WOLF SA, 1979, IEEE T MAG 0515, P595
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