DETECTION OF SF4 IN SPARKED SF6

被引：9

作者：

SAUERS, I ^{[1
]}

ELLIS, HW ^{[1
]}

FREES, LC ^{[1
]}

CHRISTOPHOROU, LG ^{[1
]}

机构：

[1] OAK RIDGE NATL LAB,DIV HLTH & SAFETY RES,ATOM MOLEC & HIGH VOLTAGE PHYS GRP,OAK RIDGE,TN 37830

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION | 1982年 / 17卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1109/TEI.1982.298469

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：284 / 286

页数：3

共 5 条

[1]

CHRISTOPHOROU LG, 1979, ORNLTM6902 SEM REP

[2] POSITIVE-IONS IN SPARK BREAKDOWN OF SF6 [J].

FREES, LC ;

SAUERS, I ;

ELLIS, HW ;

CHRISTOPHOROU, LG .

[3]

ROSENSTOCK HM, 1977, J PHYS CHEM REF D S1, V6

SUZUKI, T ;

NAKAYAMA, S ;

YOSHIMITSU, T .

IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRICAL INSULATION, 1980, 15 (01) :53-58

[5]

TOMINAGA S, 1981, FEB IEEE PED WINT M