NOISE MEASURE OF METAL-SEMI-CONDUCTOR-METAL SCHOTTKY-BARRIER MICROWAVE DIODES

被引：20

作者：

HAUS, HA

STATZ, H

PUCEL, RA

机构：

来源：

ELECTRONICS LETTERS | 1971年 / 7卷 / 22期

关键词：

D O I：

10.1049/el:19710456

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：667 / &

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共 2 条

[1] REVERSE CURRENT-VOLTAGE CHARACTERISTICS OF METAL-SILICIDE SCHOTTKY DIODES [J].

ANDREWS, JM ;

LEPSELTER, MP .

SOLID-STATE ELECTRONICS, 1970, 13 (07) :1011-+

[2]

Coleman D. J. Jr., 1971, Bell System Technical Journal, V50, P1695