DETERMINATION OF SURFACE-STRUCTURE OF LAYERED COMPOUNDS BY LOW-ENERGY ELECTRON-DIFFRACTION

被引:19
作者
MRSTIK, BJ
KAPLAN, R
REINECKE, TL
VANHOVE, M
TONG, SY
机构
[1] USN,RES LAB,WASHINGTON,DC 20375
[2] UNIV WISCONSIN,DEPT PHYS,MILWAUKEE,WI 53201
来源
NUOVO CIMENTO DELLA SOCIETA ITALIANA DI FISICA B-GENERAL PHYSICS RELATIVITY ASTRONOMY AND MATHEMATICAL PHYSICS AND METHODS | 1977年 / 38卷 / 02期
关键词
D O I
10.1007/BF02723509
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
引用
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页码:387 / 395
页数:9
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