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AN ANALYTIC MODEL FOR MINORITY-CARRIER TRANSPORT IN HEAVILY DOPED REGIONS OF SILICON DEVICES
被引:60
作者
:
FOSSUM, JG
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0
FOSSUM, JG
SHIBIB, MA
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0
SHIBIB, MA
机构
:
来源
:
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
|
1981年
/ 28卷
/ 09期
关键词
:
D O I
:
10.1109/T-ED.1981.20478
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
收藏
页码:1018 / 1025
页数:8
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[21]
TANENBAUM M, 1956, AT&T TECH J, V35, P1
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WEAVER, HT
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WEAVER, HT
;
NASBY, RD
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NASBY, RD
.
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES,
1981,
28
(05)
:465
-472
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[21]
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