PRACTICAL PROCEDURE FOR ALIGNMENT OF A HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPE

被引：52

作者：

ZEMLIN, F

机构：

来源：

ULTRAMICROSCOPY | 1979年 / 4卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1016/S0304-3991(79)90301-2

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

[No abstract available]

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页码：241 / 245

页数：5

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共 3 条

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