HALL-MOBILITY AND DEFECT STRUCTURE IN UNDOPED AND CR OR TI-DOPED COO AT HIGH-TEMPERATURE

被引:58
作者
GVISHI, M
TANNHAUSER, DS
机构
关键词
D O I
10.1016/S0022-3697(72)80105-7
中图分类号
O6 [化学];
学科分类号
0703 ;
摘要
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