CONTROLLED SURFACE FLAW-INITIATED FRACTURE IN REACTION-DENSIFIED SILICON-CARBIDE

被引：11

作者：

WILLS, RR

WIMMER, JM

机构：

[1] BATTELLE MEM INST,COLUMBUS LABS,COLUMBUS,OH 43201

[2] USAF,MAT LAB,WRIGHT PATTERSON AFB,OH 45433

来源：

关键词：

D O I：

10.1111/j.1151-2916.1976.tb09513.x

中图分类号：

TQ174 [陶瓷工业]; TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

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