HIGHER-ORDER LLOYD INTERFEROMETER

被引：7

作者：

LANGENBE.P

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1970年 / 9卷 / 08期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.9.001838

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1838 / &

相关论文

共 3 条

[1] LLOYD INTERFEROMETER APPLIED TO FLATNESS TESTING [J].

LANGENBECK, PH .

[2] A LATERAL WAVEFRONT SHEARING INTERFEROMETER WITH VARIABLE SHEAR [J].

LOHMANN, A ;

BRYNGDAHL, O .

[3]

SCHERF G, 1966, JENA REV, V2, P107