RADIATION-INDUCED DEGRADATION OF OHMIC CONTACTS

被引：4

作者：

BLUNDELL, R ^{[1
]}

MORGAN, DV ^{[1
]}

HOWES, MJ ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV LEEDS,DEPT ELECT & ELECTR ENGN,LEEDS LS2 9JT,ENGLAND

来源：

ELECTRONICS LETTERS | 1977年 / 13卷 / 16期

关键词：

D O I：

10.1049/el:19770349

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：483 / 484

页数：2

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共 5 条

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