X-RAY EXAMINATIONS OF SILICON MONOCRYSTALS BOMBARDED WITH IONS

被引：1

作者：

DRESSLER, L

机构：

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1972年 / 11卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2210110156

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：K65 / &

共 6 条

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