ABSOLUTE INTENSITY MEASUREMENT OF SMALL-ANGLE X-RAY SCATTERING BY MEANS OF A STANDARD SAMPLE .2.

被引：89

作者：

PILZ, I

KRATKY, O

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0021-9797(67)90222-6

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：211 / &

共 17 条

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