HIGH-RESOLUTION INTERFACE ANALYSIS

被引：5

作者：

CARPENTER, RW

机构：

来源：

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A-STRUCTURAL MATERIALS PROPERTIES MICROSTRUCTURE AND PROCESSING | 1989年 / 107卷

关键词：

D O I：

10.1016/0921-5093(89)90389-4

中图分类号：

TB3 [工程材料学];

学科分类号：

0805 ; 080502 ;

摘要：

引用

页码：207 / 216

页数：10

共 20 条

[1]

BRAUE W, 1987, 45TH P ANN M EL MICR, P164

[2]

BRAUE W, 1988, 46TH P ANN M EL MICR, P734

[3]

CARPENTER RW, 1982, 40TH P ANN M EMSA, P696

EGERTON, RF .

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUE, 1984, 1 (01) :37-52

[5]

Hainfield J. F., 1977, SCANNING ELECTRON MI, V1, P591

[6]

HOMENY J, 1987, MATER RES B, V66

[7] PARALLEL DETECTION ELECTRON SPECTROMETER USING QUADRUPOLE LENSES [J].

KRIVANEK, OL ;

AHN, CC ;

KEENEY, RB .

[8]

LONG NJ, 1985, 43RD P ANN EMSA M LO, P408

[9]

MERKLE KL, 1988, CERAMIC MICROSTRUCTU

[10]

NUTT SR, 1986, INTERFACES METAL MAT, P112