OBSERVATION OF LAYER STRUCTURE IN DISLOCATION FREE SILICON CRYSTALS WITH THE USE OF X-RAY ANOMALOUS TRANSMISSION

被引：7

作者：

ISHII, Z

FURUOYA, T

SASAKI, Y

KOHRA, K

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1143/JPSJ.15.206

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：206 / 207

页数：2

共 6 条

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