TEST COUNTING - A TOOL FOR VLSI TESTING

被引：7

作者：

AKERS, SB ^{[1
]}

BALAKRISHNAN ^{[1
]}

KRISHNAMURTHY ^{[1
]}

机构：

[1] TEKTRONIX INC,COMP RES LAB,BEAVERTON,OR 97077

来源：

IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS | 1989年 / 6卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1109/54.43080

中图分类号：

TP3 [计算技术、计算机技术];

学科分类号：

0812 ;

摘要：

引用

页码：58 / 77

页数：20

共 21 条

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