DIRECT ANALYSIS OF THIN LAYERS BY SPARK SOURCE MASS SPECTROGRAPHY

被引：12

作者：

CLEGG, JB

MILLETT, EJ

ROBERTS, JA

机构：

来源：

ANALYTICAL CHEMISTRY | 1970年 / 42卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1021/ac60289a013

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

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页码：713 / +

页数：1

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共 12 条

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