DECAY OF EXCESS CARRIER CONCENTRATION IN THERMALLY TREATED SILICON

被引:14
作者
GLINCHUK, KD [1 ]
LITOVCHE.NM [1 ]
LINNIK, LF [1 ]
MERKER, R [1 ]
机构
[1] ACAD SCI UKSSR,SEMICOND INST,KIEV,UKSSR
来源
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1973年 / 18卷 / 02期
关键词
D O I
10.1002/pssa.2210180238
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:749 / &
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