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INFLUENCE OF CONDITIONS FOR PREPARATION AND MEASUREMENT ON TRANSPORT PROPERTIES THROUGH THIN MGF2 FILMS
被引:6
作者
:
BARRIERE, A
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0
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0
BARRIERE, A
SCHALLON, A
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SCHALLON, A
SALARDENNE, J
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0
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SALARDENNE, J
DANTO, Y
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0
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0
DANTO, Y
机构
:
来源
:
THIN SOLID FILMS
|
1972年
/ 12卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1016/0040-6090(72)90116-2
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
引用
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页码:S39 / +
页数:1
相关论文
共 3 条
[1]
BARRIERE AS, 1971, CR ACAD SCI B PHYS, V272, P1081
[2]
CORRELATION BETWEEN FILM STRUCTURE AND SORPTION BEHAVIOR OF VAPOR-DEPOSITED ZNS, CRYOLITE AND MGF2 FILMS
[J].
PULKER, HK
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PULKER, HK
;
JUNG, E
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JUNG, E
.
THIN SOLID FILMS,
1972,
9
(01)
:57
-&
[3]
AN INVESTIGATION OF EVAPORATION PROCESS OF DIELECTRIC MATERIALS
[J].
PULKER, HK
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机构:
Balzers AG für Hochvakuumtechnik und Dünne Schichten, Balzers
PULKER, HK
;
JUNG, E
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机构:
Balzers AG für Hochvakuumtechnik und Dünne Schichten, Balzers
JUNG, E
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THIN SOLID FILMS,
1969,
4
(03)
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共 3 条
[1]
BARRIERE AS, 1971, CR ACAD SCI B PHYS, V272, P1081
[2]
CORRELATION BETWEEN FILM STRUCTURE AND SORPTION BEHAVIOR OF VAPOR-DEPOSITED ZNS, CRYOLITE AND MGF2 FILMS
[J].
PULKER, HK
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PULKER, HK
;
JUNG, E
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JUNG, E
.
THIN SOLID FILMS,
1972,
9
(01)
:57
-&
[3]
AN INVESTIGATION OF EVAPORATION PROCESS OF DIELECTRIC MATERIALS
[J].
PULKER, HK
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机构:
Balzers AG für Hochvakuumtechnik und Dünne Schichten, Balzers
PULKER, HK
;
JUNG, E
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机构:
Balzers AG für Hochvakuumtechnik und Dünne Schichten, Balzers
JUNG, E
.
THIN SOLID FILMS,
1969,
4
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