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CHARGE-DENSITIES AND WAVE-FUNCTIONS OF CHALCOGENIDE DEEP IMPURITIES IN SI
被引:53
作者
:
REN, SY
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机构:
UNIV ILLINOIS,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
REN, SY
HU, WM
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机构:
UNIV ILLINOIS,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
HU, WM
SANKEY, OF
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UNIV ILLINOIS,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
SANKEY, OF
DOW, JD
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机构:
UNIV ILLINOIS,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
DOW, JD
机构
:
[1]
UNIV ILLINOIS,MAT RES LAB,URBANA,IL 61801
[2]
UNIV ILLINOIS,DEPT PHYS,URBANA,IL 61801
来源
:
PHYSICAL REVIEW B
|
1982年
/ 26卷
/ 02期
关键词
:
D O I
:
10.1103/PhysRevB.26.951
中图分类号
:
T [工业技术];
学科分类号
:
08 ;
摘要
:
引用
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DEFECTS IN IRRADIATED SILICON - ELECTRON PARAMAGNETIC RESONANCE + ELECTRON-NUCLEAR DOUBLE RESONANCE OF SI-E CENTER
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WATKINS, GD
CORBETT, JW
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1964,
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WATKINS, GD
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CORBETT, JW
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1964,
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