A NEW APPARATUS FOR MEASURING THERMAL-EXPANSION OF THIN-FILMS

被引：4

作者：

IWASAKI, Y ^{[1
]}

KANEKO, M ^{[1
]}

HAYASHI, K ^{[1
]}

OCHIAI, Y ^{[1
]}

HAYAKAWA, M ^{[1
]}

ASO, K ^{[1
]}

机构：

[1] SONY CORP,CORP RES LAB,SHINAGAWAKU,TOKYO 114,JAPAN

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1989年 / 22卷 / 07期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/22/7/016

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：498 / 502

页数：5

共 7 条

[1]

BARRETT CS, 1952, STRUCTURE METALS, pCH21

[2]

GRAY DE, 1963, AM I PHYSICS HDB

[3]

HUZIKADO A, 1961, TOSHIBA REV, V16, P1577

KORHONEN, AS ;

JONES, PL ;

COCKS, FH .

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING, 1981, 49 (02) :127-132

MIYAGI, M ;

FUNAKOSHI, N .

[6] THERMAL-EXPANSION OF HYDROGENATED AMORPHOUS-GERMANIUM THIN-FILMS [J].

PERSANS, PD ;

RUPPERT, AF .

[7]

TAYLOR D, 1985, J BR CERAM, V84, P121