A DYNAMIC TEST METHOD FOR HIGH-RESOLUTION A D CONVERTERS

被引：5

作者：

SOUDERS, TM

机构：

来源：

IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT | 1982年 / 31卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/TIM.1982.6312502

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

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共 2 条

[1]

SCHOENWETTER HK, 1978, IEEE T INSTRUM MEAS, V27

[2] AUTOMATED TEST SET FOR HIGH-RESOLUTION ANALOG-TO-DIGITAL AND DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTERS [J].

SOUDERS, TM ;

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IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 1979, 28 (04) :239-249