POINT-DEFECT CHARGE DETERMINATION BY IONIC POLARIZATION OF SEMI CONDUCTING OXIDES WITH SPECIAL REFERENCE TO TIO2-X - REPLY

被引：2

作者：

MILLOT, F

GERDANIAN, P

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0167-2738(85)90066-9

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：157 / 158

页数：2

共 7 条

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MILLOT, F ;

GERDANIAN, P .

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[3] THE QUANTITATIVE MEASUREMENT OF ELECTROMIGRATION IN CEO2-X [J].

MILLOT, F ;

GERDANIAN, P .

MILLOT, F .

[5]

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MILLOT F, UNPUB J PHYS CHEM SO