A FLYING LIGHT SPOT METHOD FOR SIMULTANEOUS DETERMINATION OF LIFETIME AND MOBILITY OF INJECTED CURRENT CARRIERS

被引：17

作者：

ADAM, G

机构：

来源：

PHYSICA | 1954年 / 20卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1016/S0031-8914(54)80228-X

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

收藏

页码：1037 / 1041

页数：5

相关论文

共 2 条

[1] MEASUREMENT OF HOLE DIFFUSION IN N-TYPE GERMANIUM [J].

GOUCHER, FS .

PHYSICAL REVIEW, 1951, 81 (03) :475-475

[2] DRIFT MOBILITIES IN SEMICONDUCTORS .2. SILICON [J].

PRINCE, MB .

PHYSICAL REVIEW, 1954, 93 (06) :1204-1206