THE NEW MULTIPURPOSE 2-AXIS DIFFRACTOMETER FOR SYNCHROTRON X-RAYS AT DORIS

被引：21

作者：

BONSE, U ^{[1
]}

FISCHER, K ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV SAARLANDES,FACHRICHTUNG KRISTALLOG,D-6600 SAARBRUCKEN 11,FED REP GER

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH | 1981年 / 190卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(81)90960-5

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：593 / 603

页数：11

共 29 条

[1] ZUR RONTGENOGRAPHISCHEN BESTIMMUNG DES TYPS EINZELNER VERSETZUNGEN IN EINKRISTALLEN
BONSE, U
[J]. ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK, 1958, 153 (03): : 278 - 296
[2] X-RAY-MEASUREMENT OF MINUTE LATTICE STRAIN IN PERFECT SILICON-CRYSTALS
BONSE, U
HARTMANN, I
[J]. ZEITSCHRIFT FUR KRISTALLOGRAPHIE, 1981, 156 (3-4): : 265 - 279
[3] RONTGENOGRAPHISCHE ABBILDUNG DES VERZERRUNGSFELDES EINZELNER VERSETZUNGEN IN GERMANIUM-EINKRISTALLEN
BONSE, U
KAPPLER, E
[J]. ZEITSCHRIFT FUR NATURFORSCHUNG PART A-ASTROPHYSIK PHYSIK UND PHYSIKALISCHE CHEMIE, 1958, 13 (04): : 348 - &
[4] BONSE U, 1966, SMALL ANGLE XRAY SCA, P121
[5] BONSE U, 1979, EUROPEAN SYNCHROTRON, V3, P98
[6] CHIEUX P, 1980, J PHYSIQUE, V41, P145
[7] EHSES KH, 1980, ANN C CONDENSED MATT
[8] FISCHER K, 1981, Z KRISTALLOGR, V156, P3
[9] FISCHER K, 1981, ACTA CRYSTALLOGR S, V37, pC308
[10] FISCHER K, 1981, 12TH P IUCR C OTT