THE APPLICATION AND LIMITATIONS OF THE EDGE-DIFFRACTION TEST FOR ASTIGMATISM IN THE ELECTRON MICROSCOPE

被引：32

作者：

HAINE, ME

MULVEY, T

机构：

来源：

JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1954年 / 31卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1088/0950-7671/31/9/306

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：326 / 332

页数：7

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