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EVIDENCE FOR DAMAGE REGIONS IN SI GAAS AND INSB SEMICONDUCTORS BOMBARDED WITH HIGH-ENERGY NEUTRONS
被引:33
作者
:
BERTOLOTTI, M
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0
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0
BERTOLOTTI, M
PAPA, T
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PAPA, T
SETTE, D
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SETTE, D
VITALI, G
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VITALI, G
机构
:
来源
:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
|
1967年
/ 38卷
/ 06期
关键词
:
D O I
:
10.1063/1.1709962
中图分类号
:
O59 [应用物理学];
学科分类号
:
摘要
:
引用
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页码:2645 / +
页数:1
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[21]
VOOK FL, 1965, 1964 S RAD DAM ROYAU, P51
[22]
OXYGEN-DEFECT COMPLEXES IN NEUTRON-IRRADIATED GERMANIUM
[J].
WHAN, RE
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WHAN, RE
.
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1966,
37
(06)
:2435
-&
[23]
OXYGEN-DEFECT COMPLEXES IN NEUTRON-IRRADIATED SILICON
[J].
WHAN, RE
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WHAN, RE
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1966,
37
(09)
:3378
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VOOK FL, 1965, 1964 S RAD DAM ROYAU, P51
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1966,
37
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