PRODUCTION AND BEAM ANNEALING OF DAMAGE IN CARBON IMPLANTED SILICON .2.

被引:33
作者
KOOL, WH [1 ]
ROOSENDAAL, HE [1 ]
WIGGERS, LW [1 ]
SARIS, FW [1 ]
机构
[1] FOM,INST ATOOM & MOLECUULFYS,KRUISLAAN 407,AMSTERDAM,NETHERLANDS
来源
RADIATION EFFECTS AND DEFECTS IN SOLIDS | 1978年 / 36卷 / 1-2期
关键词
D O I
10.1080/00337577808233169
中图分类号
TL [原子能技术]; O571 [原子核物理学];
学科分类号
0827 ; 082701 ;
摘要
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