SAMPLE CELL FOR EXAFS MEASUREMENTS ON MOLTEN MATERIALS AT ELEVATED-TEMPERATURES

被引：8

作者：

MIKKELSEN, JC

BOYCE, JB

ALLEN, R

机构：

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1980年 / 51卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1136190

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：388 / 389

页数：2

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[3] STRUCTURAL DETERMINATIONS OF LIQUID SEMICONDUCTORS USING EXTENDED X-RAY ABSORPTION FINE-STRUCTURE [J].

CROZIER, ED ;

LYTLE, FW ;

SAYERS, DE ;

STERN, EA .

CANADIAN JOURNAL OF CHEMISTRY-REVUE CANADIENNE DE CHIMIE, 1977, 55 (11) :1968-1974