ANALYSIS OF BACK SCATTERED IONS AS A TECHNIQUE FOR STUDY OF SURFACES

被引:18
作者
ARMOUR, DG
CARTER, G
机构
来源
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1972年 / 5卷 / 01期
关键词
D O I
10.1088/0022-3735/5/1/001
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
引用
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