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- [11] THE INTENSITY OF EMISSION OF CHARACTERISTIC X-RADIATION[J]. PROCEEDINGS OF THE PHYSICAL SOCIETY OF LONDON SECTION A, 1956, 69 (05): : 401 - 412WORTHINGTON, CRTOMLIN, SG
AUGER ELECTRON SPECTROMETER AS A TOOL FOR SURFACE ANALYSIS (CONTAMINATION MONITOR)
被引：34
作者：
TAYLOR, NJ
机构：
来源：
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY
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1969年
/
6卷
/
01期
关键词：
D O I：
10.1116/1.1492671
中图分类号：
O59 [应用物理学];
学科分类号：
摘要：
引用
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页码：241 / &
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