星载成像光谱仪杂散光检测技术

被引：8

作者：

张军强 ^{[1
,2
]}

吴清文 ^{[1
]}

颜昌翔 ^{[1
]}

机构：

[1] 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

[2] 中国科学院研究生院

来源：

中国光学与应用光学 | 2010年 / 3卷 / 04期

关键词：

杂散光; 杂散光检测; 成像光谱仪;

D O I：

暂无

中图分类号：

TH744.1 [];

学科分类号：

0803 ;

摘要：

介绍了星载成像光谱仪杂散光检测技术在国内外的发展状况,阐述了成像光谱仪杂散光的定义、来源和危害,分析了杂散光检测的必要性。通过截止滤光片法、光谱法、谱杂散光系数法、级数透过率法、氧气吸收光谱及参数拟合法、卷积计算法和矩阵修正法等7种光谱仪器杂散光检测方法优缺点的对比,给出了星载成像光谱仪杂散光检测技术的具体要求和发展趋势,认为单一的检测技术很难满足工程研制的实际需要,针对各研制阶段的组合检测技术将是星载成像光谱仪杂光检测的发展方向。

引用

页码：337 / 342

页数：6

共 14 条

[1] 星载高分辨率超光谱成像仪分光方式的选择 [J].