基于计数器实现的加法器自测试

被引：1

作者：

李兆麟

田泽

于敦山

盛世敏

机构：

[1] 北京大学微电子学研究所

[2] 中国科学院微电子中心

[3] 北京大学微电子学研究所北京

[4] 北京

来源：

关键词：

加法器; 自测试; 计数器; 测试复用;

D O I：

暂无

中图分类号：

TN402 [设计];

学科分类号：

080903 ; 1401 ;

摘要：

文章研究了行波进位加法器和先行进位加法器的测试向量生成,并基于计数器实现了这两种加法器的自测试。实验结果表明,所得的测试向量针对不同的目标工艺均可以实现被测加法器的100%故障覆盖率,且测试向量生成电路易扩展,能够实现测试复用。

引用

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页数：3

共 4 条

[1] 基于单元故障模型的树型加法器的测试 [J].

李兆麟 ;

盛世敏 ;

吉利久 ;

王阳元 .

[2] 基于模块化结构的N位加法器的测试生成 [J].

曾平英 ;

毛志刚 ;

叶以正 .

[3]

On the design of fast , easily testable ALU' s .2 Blanton R D,Hayes J P. IEEE Trans Very Large Scale Integration Systems . 2000

[4]

A regular layout for parallel adders .2 Brent R P,Kung H T. IEEE Transactions on Computers . 1982