磁石的X射线衍射Fourier指纹图谱研究

被引：16

作者：

傅兴圣 ^{[1
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刘训红 ^{[1
]}

林瑞超 ^{[2
]}

王伯涛 ^{[3
]}

许虎 ^{[1
]}

吴德康 ^{[1
]}

刘圣金 ^{[1
]}

机构：

[1] 南京中医药大学

[2] 中国药品生物制品检定所

[3] 南京工业大学

来源：

中成药 | 2011年 / 10期

关键词：

磁石; X射线衍射; 指纹图谱;

D O I：

暂无

中图分类号：

R284.1 [化学分析与鉴定];

学科分类号：

1008 ;

摘要：

目的建立磁石的X射线衍射(XRD)Fourier指纹图谱分析方法。方法采用粉末X射线衍射(XRD)技术对矿物药磁石进行分析,测定其XRD Fourier指纹图谱,并作模糊聚类法分析和相似度评价。结果初步建立了以11个共有峰为特征指纹信息的12批磁石的XRD Fourier指纹图谱分析方法,其中4号峰和7号峰分别为石英和四氧化三铁的特征峰;所分析样品XRD Fourier指纹图谱的相似度为0.849～0.998;少数样品XRD Fourier图谱的峰数目和峰强有一定差异;生品与煅制品的XRD Fourier图谱有明显差异。结论 XRD Fourier指纹谱分析法可用于磁石药材的鉴定与分析。

引用

页码：1652 / 1657

页数：6

共 9 条

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