Nb3Ge超导薄膜化学组份的X射线荧光光谱法非破坏快速测定

被引：4

作者：

吴长存

郝贡章

许佩珍

李明洁

机构：

[1] 北京有色金属研究总院

来源：

关键词：

超导薄膜; 化学组份; Nb3Ge; 面密度; 荧光光谱;

D O I：

10.13373/j.cnki.cjrm.1983.04.016

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

本文以 X 射线荧光光谱法薄样原理为依据,采用人工合成滤纸片薄样标准,直接测定 Nb3Ge超导薄膜的化学组份。并根据通用薄层判据,估算薄膜厚度的影响。Nb3Ge 超导薄膜厚度在不大于1微米即试样面密度不大于800微克/厘米2范围内,方法的相对标准偏差优于1%。

引用

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