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基于社会网络分析的专利基础技术识别——以半导体产业为例
被引:19
作者:
王海龙
和法清
丁堃
机构:
[1] 大连理工大学科学学与科技管理研究所
来源:
关键词:
专利数据;
基础技术;
共性技术;
度中心性;
社会网络分析;
结构洞;
熵值法;
D O I:
暂无
中图分类号:
G306 [专利研究];
学科分类号:
摘要:
[目的/意义]随着产业技术的快速发展和专利申请数量的迅速增加,如何从海量专利文献中有效识别产业基础技术具有重要意义。[方法/过程]首先以USPTO数据库中的专利数据为样本构建技术领域引用矩阵,然后选取社会网络分析的出度、入度、中介中心度、接近中心度、有效规模和限制度等6个指标建立综合评价指标体系。在此基础上,采用熵值法赋权识别出技术领域引用矩阵中的产业基础技术,最后以半导体产业为例进行了实证分析。[结果/结论]结果表明,半导体装置的制造、活性固态元件、金属加工和涂层工艺等专利技术领域为半导体产业中的基础技术;社会网络分析方法有助于快速有效识别产业基础技术。
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