MOSFET调制器的实验研究

被引:10
作者
王相綦
何宁
冯德仁
李一丁
机构
[1] 中国科学技术大学国家同步辐射实验室
关键词
MOSFET; 调制器; 复杂可编程逻辑器件; 感应叠加; 剩余电流;
D O I
暂无
中图分类号
TL503 [加速器结构和制造工艺];
学科分类号
082701 ;
摘要
介绍了MOSFET调制器的基本原理,并对其并联分流和感应叠加两种开关结构进行了实验研究。基于可编辑逻辑器件设计了其触发电路,驱动电路采用高速MOSFET对管组成的推挽输出形式,加快了MOSFET的开关速度。利用Pspice软件对开关上有无剩余电流电路(RCD)两种情况进行仿真,结果表明,加装RCD电路可以有效吸收MOSFET在关断瞬间产生的反峰电压。实验中,电流波形用Pearson线圈测量,用3个MOSFET并联作开关,当电容充电电压为450 V,负载为30Ω时,脉冲电流13 A,前沿20 ns,平顶约80ns;用3个单元调制器感应叠加,当电容充电电压为450 A,负载为30Ω时,脉冲电流强度为40 A,前沿25 ns,平顶约70 ns。
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