基于热刺激电流的硅橡胶合成绝缘子老化诊断方法初探

被引:33
作者
梁英
丁立健
李成榕
杨堃
屠幼萍
机构
[1] 华北电力大学高电压与电磁兼容北京市重点实验室
[2] 华北电力大学高电压与电磁兼容北京市重点实验室 北京市 昌平区
关键词
热刺激电流; 硅橡胶; 合成绝缘子; 老化诊断; 陷阱电荷;
D O I
10.13334/j.0258-8013.pcsee.2007.21.004
中图分类号
TM216 [绝缘子和套管];
学科分类号
摘要
初步研究了用热刺激电流(TSC)技术进行硅橡胶合成绝缘子老化状态评估诊断的可行性。首先研究各种试验参数对硅橡胶合成绝缘子TSC特性的影响,结合不同测试条件的硅橡胶绝缘子陷阱电荷趋势图,确定一种合适的TSC试验参数,并在此给定的试验参数下,对比研究同一厂家新旧2批合成绝缘子的TSC特性。初步试验发现,新旧绝缘子的TSC测试结果明显不同。结合绝缘子的憎水性测试及微观结构分析发现,TSC测试结果与憎水性、微观结构之间存在一定联系。研究结果表明,如果深入系统地研究TSC特性与老化特性之间的关系,TSC技术有可能成为硅橡胶合成绝缘子老化程度评价及诊断的新方法。
引用
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